左ページから抽出された内容
02最新の観察装置・表面分析装置をご紹介！近年、電子機器の小型化、半導体の微細化、機能性材料の開発など革新的な進歩を遂げており、それに伴い微小領域を高精度・高速に観察・分析したいというニーズはますます高まりつつあります。本カタログでは、そのような顧客ニーズに対応した最新の観察装置（表面観察装置/内部観察装置）・表面分析装置などを紹介いたします。製品名型式製造元ページ走査電子顕微鏡SU3900日立ハイテク03JSM-IT210日本電子電界放出走査電子顕微鏡（ColdFE-SEM）SU8600日立ハイテク04ナノ３D光干渉計測システムVS1800日立ハイテク原子間力顕微鏡(AFM)CypherL+ヤマト科学05多機能プローブ顕微鏡システムAFM100日立ハイテク微細形状測定機ET200Aシリーズ小坂研究所06光波動場三次元顕微鏡MINUK大塚電子三次元計測X線CT装置TDM1001-IIヤマト科学07デジタルマイクロスコープHRX-01/RX-100ハイロックス■観察装置製品名型式製造元ページ赤外顕微鏡Nicolet™RaptIR™シリーズサーモフィッシャーサイエンティフィック08顕微ラマン分光測定装置LabRAMOdyssey堀場製作所レーザーラマン顕微鏡RAMANtouchナノフォトン09モジュール型共焦点ラマン顕微鏡alpha300Rオックスフォード・インストゥルメンツ微小部X線分析装置XGT-9000堀場製作所10電子プローブマイクロアナライザーJXA-iSP100/iHP200F日本電子■表面分析装置製品名型式製造元ページ粒子分散ユニットParticleDisperserXD-100堀場製作所11試料精密切断機MECATOMET215メッツ・ジャパン■前処理製品観察装置の水平・垂直分解能1mm垂直方向VerticalScale画内方向LateralScale1µm1nm1nm1µm1mm走査電子顕微鏡デジタルマイクロスコープナノ3D光干渉計測システム走査型プローブ顕微鏡デモ機保有デモ機保有デモ機保有デモ機保有デモ機保有ナノレベルからミリレベルまでの形状を、総合的に把握することは、研究・開発から品質管理・保証において、重要な要素となります。当社では幅広い測定ニーズにお応えする観察装置を提案します。
右ページから抽出された内容
03試料ホルダΦ15mm×33個4×3の撮影領域5mm5mm20mm◦ 新型光学系により、5kV以下の低加速電圧でも綺麗な像取得が可能◦ 大型/重量試料に対応した300mmΦ大型ステージ搭載（最大搭載可能丈量：5kg）◦ オート調整のアルゴリズム改良により待ち時間1/3以下、高スループットでデータ取得特徴日立ハイテク走査電子顕微鏡SU3900¥34,000,000（税抜）〜日本電子走査電子顕微鏡JSM-IT210¥15,000,000（税抜）〜◦ 5軸モータステージ標準搭載により安心かつ迅速にデータ取得が可能◦ ライブ3D機能で試料の凹凸を即座に判断◦ 分析をよりスピーディーにする60mm²大口径EDSを搭載特徴Φ300mmチャンバーの大型汎用SEM視野を選択するだけで観察・分析データを自動取得複数領域の自動異物解析が可能です。Φ15mmの試料台を33個搭載し自動粒子解析が可能です。真空排気完了後に、目的視野でフォーカスと明るさが自動調整されます。短時間で従来のEDSと同クオリティーのスペクトルを取得できます。観察装置LPレコードを前処理することなく非破壊で観察する事が可能です。全396視野を約3時間で自動撮像
お探しのページは「カタログビュー」でごらんいただけます。カタログビューではweb上でパラパラめくりながらカタログをごらんになれます。