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02最新の観察装置・表面分析装置をご紹介！近年、電子機器の小型化、半導体の微細化、機能性材料の開発など革新的な進歩を遂げており、それに伴い微小領域を高精度・高速に観察・分析したいというニーズはますます高まりつつあります。本カタログでは、そのような顧客ニーズに対応した最新の観察装置（表面観察装置/内部観察装置）・表面分析装置などを紹介いたします。製品名型式製造元ページ顕微ラマン分光測定装置LabRAMOdyssey堀場製作所P.08モジュール型共焦点ラマン顕微鏡witec360オックスフォード・インストゥルメンツ赤外顕微鏡Nicolet™RaptIR™シリーズサーモフィッシャーサイエンティフィックP.09微小部X線分析装置XGT-9000堀場製作所電子プローブマイクロアナライザーJXA-iSP100/iHP200F日本電子P.10マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置GD-Profiler2™堀場製作所■表面分析装置製品名型式製造元ページ顕微鏡一体型電動マイクロマニピュレーターシステムアクシスプロAPIマイクロサポートP.11試料精密切断機MECATOMET215メッツ・ジャパン■前処理製品観察装置の水平・垂直分解能1mm垂直方向VerticalScale画内方向LateralScale1µm1nm1nm1µm1mm走査電子顕微鏡デジタルマイクロスコープ走査型プローブ顕微鏡製品名型式製造元ページ卓上顕微鏡（SEM）MiniscopeTM4000PlusⅢ日立ハイテクP.03走査電子顕微鏡（SEM）JSM-IT210日本電子走査電子顕微鏡（SEM）SU3900日立ハイテクP.04電界放出走査電子顕微鏡（ColdFE-SEM）SU8600日立ハイテク原子間力顕微鏡（AFM）CypherL+ヤマト科学P.05微細形状測定機ET200Aシリーズ小坂研究所デジタルマイクロスコープHRX-02/RX-100ハイロックスP.06光波動場三次元顕微鏡MINUK大塚電子三次元計測X線CT装置TDM1001-IIヤマト科学P.07三次元X線CTシステムXVA-160αⅡ"Z"ユー・エイチ・システム■観察装置デモ機保有デモ機保有デモ機保有ナノレベルからミリレベルまでの形状を、総合的に把握することは、研究・開発から品質管理・保証において、重要な要素となります。当社では幅広い測定ニーズにお応えする観察装置を提案します。デモ機保有
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03日本電子走査電子顕微鏡JSM-IT210¥15,000,000（税抜）〜◦ 5軸モータステージ標準搭載により安心かつ迅速にデータ取得が可能◦ ライブ3D機能で試料の凹凸を即座に判断◦ 分析をよりスピーディーにする60mm²大口径EDSを搭載特徴視野を選択するだけで観察・分析データを自動取得真空排気完了後に、目的視野でフォーカスと明るさが自動調整されます。短時間で従来のEDSと同クオリティーのスペクトルを取得できます。観察装置日立ハイテク卓上顕微鏡（SEM）MiniscopeTM4000PlusⅢ¥7,450,000（税抜）〜◦ CuやNiは低エネルギー側でピークが重なる元素です。加速電圧20kVで分析することで高エネルギー側でピークを分け、かつ高感度の分析を実現します◦ 加速電圧20kV、大電流モードでハイスループットEDS（オプション）分析を実現◦ 自動化オプションで単純業務を省力化・平準化特徴電子顕微鏡解析のファーストステップモデル絶縁物（付箋紙）の無蒸着観察絶縁物でも前処理なく、反射電子・二次電子の観察が可能です。真空度の切替、ビーム条件の切替などの操作をせずに、簡単に多彩な観察が可能です。反射電子像（組成情報）二次電子像（表面形状）加速電圧20kVでEDS分析が可能CuやNiは低エネルギー側でピークが重なる元素です。加速電圧20kVで分析することで高エネルギー側でピークを分け、かつ高感度の分析を実現します。デモ機保有
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