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06アプリケーションデータMDMO-PPV:PCBMポリマー/フラーレン太陽電池タッピングAFMでイメージ。2µmスキャン。＊イメージ提供：P.Cox氏、M.Glaz氏、S.Vorpahl氏およびD.Ginger氏（ワシントン大学）タッピングAFMミクロゲル薄膜表面電位顕微鏡（KPFM）イメージ15µmスキャン。＊イメージ提供：C.Sorrell氏およびL.Lyon氏（ジョージア工科大学）表面電位顕微鏡（KPFM）DNA折り紙トライアングル液中で取得したイメージ。600nmスキャン。＊イメージ提供：P.Rothemund氏（カリフォルニア工科大）液中タッピングAFMバクテリオロドプシン膜タンパク質をバッファ中で液中タッピングAFMイメージ。75nmスキャン。欠損サブユニット（白い円で囲まれた部分）がいくつのかの三量体において観察されています。液中タッピングAFMPTCDI-メラミンネットワークPTCDIおよびメラミンは六方晶窒化ホウ素基板に溶液から析出する際に、多孔性2Dネットワークを形成します。分子分解能イメージは、大気中でコンタクトAFMを使用して取得し、格子定数3.54±0.04nmが測定されました。＊イメージ提供：P.Beton氏（ノッティングガム大学）コンタクトAFMポルフィリン（TCPP）2DアレイTCPPは溶液から六方晶窒化ホウ素上へ吸着する際に2D超分子ネットワークを形成します。大気中タッピングAFMイメージが2.24±0.05nm間隔の平方格子を示しています。＊イメージ提供：P.Beton氏（ノッティングガム大学）タッピングAFM混合脂質二重層（50:50DOPC:DPPC）bluDriveタッピングAFMでイメージ。3µmスキャン。DPPC層はDOPC層に比べて～1.3nmほど厚いことが分かります。blueDriveタッピングAFMF-アクチンフィラメントタッピングAFMイメージ、340nmスキャン。らせんピッチの測定値は37.8nmで、文献値と一致しています。＊イメージ提供：E.Reisler氏（UCLA）タッピングAFMDNAの連続スキャンバッファ中における下方向へのスキャン（上図）と上へ戻るスキャン（下図）。主溝と副溝の両方が明確に解像出来ています。液中タッピングAFM
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07hBN（立方晶窒化ホウ素）基板上の2層グラフェン（左）コンタクトAFM、（右）水平力顕微鏡。グラフェン層間のねじれ角による大きなパターンと、グラフェンとhBNの格子不整合による小さなパターンの2つのモアレパターンが観察されています。カラースケールは、高さ画像で±70pm、水平力顕微鏡で±6mV。コンタクトAFM/水平力顕微鏡（LFM）hBN基板上の3層グラフェンモアレおよびスーパーモアレパターンが観察されています。カラースケールは±15nA。＊イメージ提供：カリフォルニア大学サンタバーバラ校AndreaYoungグループコンダクティブAFM（CAFM）半フッ素化アルカン半フッ素化アルカン（F（CF₂）₁₄（CH₂）₂₀H）は、シリコン基板上に自己組織化構造を形成します。極性の高い分子であることから、表面電位顕微鏡（KPFM）において強い電位コントラストが得られます。カラースケールは±220mV。表面電位顕微鏡（KPFM）二軸延伸ポリプロピレン二軸延伸ポリプロピレンは食品包装材として使用されています。ここでは、加工条件によって変化するナノ構造を、タッピングAFMで可視化しました。カラースケールは±8nm。タッピングAFMポリテトラフルオロエチレン（PTFE）PTFEは結晶と非晶質の両方の領域を持つ半結晶性高分子です。位相イメージング利用して、約0.56nmの分子間隔を確認しました。位相イメージングSiC基板上にMBE成長したAlN膜SiC基板上にMBE成長したAlN膜表面の螺旋転位のタッピングAFM像。カラースケールは±1nm。＊イメージ提供：コーネル大学イエナシン研究所ReetChaudhuri博士窒化ガリウム（GaN）GaNの表面粗さは、デバイスの性能に影響を与えることがあります。この画像は、”反応性イオンエッチング（RIE）時のバイアス印加がGaNサンプルの表面粗さと表面近傍の損傷に及ぼす影響に関する研究”により得られたものです。RIEは、オックスフォード・インストゥルメンツのPlasmaPro100DCobraシステムで行われました。左の画像はエッチング前の表面、右の画像はエッチング後の表面画像です。カラースケールは、いずれも±500pm。blueDriveタッピングAFMタッピングAFM
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