微細形状測定機 【段差計・粗さ計】 2(2)

Cat.No:C1293Aこのカタログの記載内容は2023年9月現在のものです。◦仕様および外観、価格は、改良のため予告なく変更することがありますのでご了承ください。◦製品カラーは、撮影・印刷インキの関係で実際の色と異なって見えることがあります。◦価格には、消費税が含まれておりません。◦記載されている会社名、製品名およびロゴは、当社または各社の商標および登録商標です。本文中に「TM」、「Ⓡ」は記載しておりません。筑波(029)852-3411川崎(044)540-3751北陸(076)443-8603＜国内営業・サービス拠点＞広州ケルン重慶西安上海東莞サンフランシスコ北京＜海外拠点＞お問い合わせは、信用とサービスの行き届いた当店へ北関東(048)642-2569横浜(045)828-1631京滋(075)343-7201千葉(043)241-7085厚木(046)224-6911関西(06)6101-3112札幌(011)204-6780東京(03)5827-3525長野(026)291-6001広島(082)221-0921仙台(022)216-5701静岡(054)653-0510山口(083)974-4760前橋(027)280-4650東京西(042)352-3211名古屋(052)202-3051福岡(092)263-7550Copyright©YamatoScientificCo.,Ltd.AllRightsReserved.本社〒104-6136東京都中央区晴海1-8-11晴海トリトンスクエアY棟36階お客様総合サービスセンター●携帯電話からは0570−064−5250120-405-525●受付時間9:00〜12:00、13:00〜17:00土日祝除くヤマト科学ウェブサイトwww.yamato-net.co.jp● メールでのお問い合わせは、ヤマト科学ウェブサイトより受付しております注意本カタログに掲載された製品の仕様・性能数値は、一般的な使用条件における、ユーザーガイドとして提示しています。ご使用の際は、取扱説明書の内容をご理解いただき、正しくご使用ください。取扱説明書の記載使用条件を外れて使用され、人的・物的損害が発生しても、当社はその責任を負いかねますのでご注意ください。測定事例アフターメンテナンス測定の精度を保証するため定期的な校正が必要となります。購入後の装置の校正を含めたアフターメンテナンスに関しては製造メーカーの株式会社小坂研究所にて対応いたします。株式会社小坂研究所は、JCSS(ISO/IEC17025)に定める校正機関として認定されており、標準片校正を実施することが可能です。国内拠点より経験豊富なスタッフが早期に対応いたします。また、測定前の校正用標準サンプルも取扱っておりますので、別途ご相談ください。chirp振幅A1um変調可波長λ25um～8.0mm変調Sin波振幅AMin:1um、Max:15um変調可波長λ振幅により制限あり段差深さDMin:1um、Max:15um幅WMin:70umその他三角波、のこぎり波、円弧溝、ランダム、他校正用標準サンプルのご紹介触針測定に必要な、様々な表面性状測定用校正用標準片を扱っています。ご要望の標準サンプルにも対応しますので、別途ご相談ください。校正用標準サンプルの仕様範囲品名型式備考除振台（テーブル型）ETV-7A　W815×D745×H750mm 約320kg除振台（卓上型）ETV-12W500×D400×H80mm 約10kgスタイラスET-1609R0.1µm 60°ダイヤモンドET-1610R0.2µm 60°ダイヤモンドET-1480R0.5µm 60°ダイヤモンドET-1507R5µm 60°ダイヤモンドET-2291R12.5µm 60°ダイヤモンド三次元解析システムTDA-31−オプション紙・フィルム等の軟材料表面の高さ分布も測定可能です。平面図(高さ分布)鳥瞰図(高さ分布)測定結果測定条件測定サンプル ◦名刺の印刷文字「Yamato」名刺ロゴ部分のインク厚み ◦撮影範囲：10×3mm ◦X軸ピッチ：2um ◦Y軸ピッチ：5um ◦測定力：100uN2Dプロファイル測定例測定サンプル ◦段差標準片SS-T31 ◦測定力:100uN(10mgf) ◦測定速度:20um/s ◦触針:2umR/頂角60°平均値:277.45nm最大値:277.40nm最小値:277.52nm標準偏差:0.04nm＊10回測定Q&ASurfcorderET200AシリーズJCSSについて教えてください。QJCSS（JapanCallibrationServiceSystem)は計量法厚生事業者登録制度です。計量法第8章の規定により、計量のトレーサビリティ確保のため設立された制度です。認定機関である独立行政法人製品評価技術基盤機構認定センターが国際規格のISO/IEC17025(JISQ17025)に基づき計量器を校正する事業所の審査・認定をおこないます。