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06ミクロゲル薄膜表面電位イメージ15µmスキャン。C.Sorrell氏およびL.Lyon氏（ジョージア工科大学）提供。GaFeO₃薄膜PFM（piezoresponseforcemicroscopy）振幅像を形状像に重ね合わせたイメージ。1.25µmスキャン。サンプル提供はS.Mukherjee氏、R.Gupta氏およびA.Garg氏（インド工科大学材料科学工学科、カンプル）銅膜上に成長した窒化ホウ素およびグラフェンKPFMを使用してイメージング。表面電位のデータが3次元形状像上に示されており、銅の粗い形状像のために不明瞭になったかもしれない窒化ホウ素の三角形のパッチおよびグラフェンの不規則な領域がはっきりと見えています。50µmスキャン。サンプル提供：N.Wilson氏（ウォーリック大学）カーボンナノチューブ片側の電極に取り付けたカーボンナノチューブ、EFM（electricforcemicroscopy）位相像を形状像に重ね合わせたイメージ。5x2.5µmスキャン。MinotLab（オレゴン州立大学）提供。DNA折り紙トライアングル液中で取得したイメージ。600nmスキャン。サンプル提供はP.Rothemund氏（カリフォルニア工科大）。ゾルゲル法による圧電薄膜（2µmスキャン）PFM（piezoforcemicroscopy:圧電応答顕微鏡）モードの位相データを形状像に重ね合わせ。アプリケーションデータ
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07MDMO-PPV:PCBMポリマー/フラーレン太陽電池タッピングモードにおいて、GesStartedを使用してイメージングを行った形状像。2µmスキャン。イメージ提供：P.Cox氏、M.Glaz氏，S.Vorpahl氏およびD.Ginger氏（ワシントン大学）。シリコン(E'160GPa)上のチタン(E'110GPa)薄膜コンタクト共振粘弾性マッピングモードを使用してイメージング。弾性率を3D形状像に重ねて表示。25µmスキャン。F-アクチンフィラメントタッピングモードイメージング、340nmスキャン。らせんピッチの測定値は37.8nmで、文献値と一致しています。サンプル提供：E.Reisler氏（UCLA）。DNAの連続スキャンバッファ中における下方向へのスキャン（上図）と上へ戻るスキャン（下図）。主溝と副溝の両方が明確に解像出来ています。バクテリオロドプシン膜タンパク質をバッファ中でタッピングモードイメージング。75nmスキャン。欠損サブユニット（白い円で囲まれた部分）がいくつのかの三量体において観察されています。混合脂質二重層（50:50DOPC:DPPC)bluDriveを使用してタッピングモードでイメージング。3µmスキャン。DPPC層はDOPC層に比べて～1.3nmほど厚い。Poly(styrene-(ethylene-ran-butadiene)-styrene)トリブロック共重合体(SEBS)スピンコートによりシリコンウェハ上に薄膜を形成。AF-FM粘弾性マッピングモードを使用してイメージング。弾性率を3D形状像に重ねて表示。750nmスキャン。EuドープZnO薄膜における光電流ドープ酸化亜鉛膜は潜在的な光触媒材料であり、可視光で光励起が生じるように、ドーパントによってバンドキャップが狭められています。ここではCAFMを使用して、カンチレバーの先端から少し離れた場所に照射したblueDriveのレーザーで生じる光電流を測定しました。電流を3D形状像に重ねて表示。5µmスキャン。
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