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コンピューターや半導体の動作試験向け装置環境試験装置3■用途1.コンピューター及び関連機器の動作試験2.半導体及び実装プリント基板の動作試験3.OA機器の粉じん、負荷試験4.精密機器の粉じん、ガスばく露動作試験5.光学機器のガス耐久試験粉じん環境試験装置の概要近年OA機器を初めとして、コンピューター関連製品などのハイテク産業は目ざましい発展を続けております。各メーカーでは、これらの品質向上と信頼性の確保のため、製品の研究開発段階からいろいろな試験が実施されております。最近特に注目されている試験に環境試験があります。これは温湿度条件の可変や、空気汚染環境条件の設定により、ある製品が生産されて梱包、出荷、輸送、保管、設置、運用、廃棄に至るまでに遭遇すると予想される代表的な環境ストレス(温度、湿度、振動、気圧など)を考慮して、そうした条件下でその製品の計画通りの性能・機能が発揮されるか否かを評価する試験です。空気汚染条件としては、粉じんや腐食性ガスがあげられ、これらの濃度を任意に設定し、一定時間ばく露するものです。当社では、環境計測と、制御技術を応用し、粉じんやガス濃度を安定して供給できる、各種の環境試験装置を開発しました。この装置はコンピューターメーカーを初めとして、光ディスクや音響機器、オートメーション機器、精密機械などのメーカーで広く使用されています。特徴●JIS試験粉体をはじめ、各種のガス、粉じん試験が可能です。●光散乱方式粉じん計により、チャンバー内粉じん濃度を連続記録することができます。●連続粉じん発生装置と、粉じん濃度計との組合わせで、自動濃度コントロールができます。●排気処理装置を備えており、試験粉体やガスを除去して排出します。●標準仕様以外に規格、寸法など、使用条件に合わせて特別仕様で設計、製作いたしますのでご照会ください。環境条件とその主な影響環 境 条 件設 定 範 囲主 な 影 響代表的な故障の例関東ローム粉体を初めとするJISの各種標準粉体粉体を0.1㎎/m3の低濃度から1g/m3の高濃度までの広範囲摩滅、詰まり、固着、熱的絶縁、帯電摩耗の増加、電気的故障、機械的故障、過熱オゾン0.01ppmの低濃度から10ppmの高濃度までの広範囲急激な酸化、脆弱化(特にゴム)、空気の電気的絶縁の劣化電気的な故障、細かいひび割れ、クラッキング、機械的故障NO2、SO2などの腐食性ガス0.01ppmの低濃度から10ppmの高濃度までの広範囲化学反応、腐食、電解、表面劣化、導電率の増加、接点材料の抵抗増加摩耗の増加、機械的故障、電気的故障環境試験装置EnvironmentalTestingApparatus概 要試験装置参考資料34
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濃度制御の特徴(JIS規格装置との比較)テストチャンバーの種類(特注設計致します)経過時間t濃度c経過時間t濃度cJIS規格に見かける試験装置です。決められた量の粉体を入れたのち周期的にブロワー(や空気)で内部を撹拌して試験します。内部の粉じん濃度監視はしていません。チャンバー内部の粉じん濃度を監視発生器にフィードバック制御することで内部濃度を一定に維持しながら試験することができます。粉じん供給粉じん計ダスト発生器循環ブロワー運転制御粉じん濃度監視試験対象機器JIS規格の試験装置小型の試験体には角型ステンレスチャンバー大型の試験体にはプレハブ式チャンバー柴田科学の試験装置定濃度長期試験に強みがあります!※前室も付けられます※機器からの発熱を排熱する 空調機付きもございます圧力ゲージタルク概 要試験装置参考資料35
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